| dc.description.abstract | Skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM) je nakon više od 50 godina komercijalne dostupnosti našla značajnu primenu u različitim granama nauke i tehnike, pa tako i u geologiji i rudarstvu. Razvoj elektronske optike i različitih elektronskih, rendgenskih i svetlosnih detektora, zasnovanih na brojnim efektima interakcije elektronskog snopa i analiziranog uzorka, omogućava detalјnu morfološku, strukturnu i hemijsku mikroanalizu, na milimetarskoj do nanometarskoj skali. Na taj način je moguće odrediti strukturu i teksturu ispitivanih materijala, kao i oblik, veličinu i hemijski sastav prisutnih faza; definisati mineralne vrste i način pojavlјivanja glavnih i primesnih elemenata; ispitati međusobno srastanje i stepen oslobođenosti pojedinačnih faza; ispitati habanje i lom materijala, i drugo. Sve veća dostupnost instrumenata, relativna jednostavnost analize i jasna vizualizacija dobijenih rezultata učinili su SEM metodu jednom od neizostavnih metoda karakterizacije, bilo da su u pitanju metalične i nemetalične mineralne sirovine, rudni koncentrati, flotacijska jalovina, veštački građevinski materijali, metali, legure ili drugi čvrsti materijali. | sr |
